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半導體pct老化試驗箱用途：測試其制品的耐厭性，氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

連接器pct老化試驗箱技術規格／性能： 1、型號PTC-25、內箱尺寸∮250×450D（mm）： 2、型號PTC-35、內箱尺寸∮350×500D（mm）： 3、溫度范圍：RT10℃—132℃ 4、濕度范圍：100R、H 5、壓力范圍：0.0kg／㎝2～2.8kg／㎝2（相對壓力，鍋內壓力），壓力＝1.0kg／㎝2＋0.0kg／㎝2～3.0kg／㎝2（安

鋰電池pct老化試驗箱熊s技術要求： 1、溫度范圍 105℃ → +132℃. （控制點） 溫度波動度 ±0.5℃. 2、溫度偏差 ±2.0℃. 3、濕度范圍 75% ～ 100 %R.H . （控制點） 4、濕度波動度 ±2.5 %R.H. 5、濕度均勻度 ±5.0%.

PCT飽和加速壽命試驗箱熊s實驗開始前之真空動作可將原來內箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing ＜1micom、以確保箱內之純凈度

艾思荔檢測儀器專業生產塑料薄膜PCT加速老化試驗箱（）的明星企業，生產歷史長技術精。為國內多家測試設備廠所配套使用,建廠三十余年,備受好評,多次被評為“省優”產品。